X-ışınları Teorisi

X-ışınları Floresans (XRF) spektroskopisi maddelerin element bileşimini belirlemede kullanılan önemli yöntemlerden biridir. XRF çalışma prensibi; eğer atom X ışınları gibi yüksek enerjili bir radyasyonla uyarılırsa, bu yüksek enerji girişi yakın yörüngelerdeki elektronları daha yüksek enerji düzeyine çıkarır. Uyarılan elektronlar ilk enerji düzeylerine döndüklerinde kazanmış oldukları fazla enerjiyi dalga boyu 0,1-50 Å olan X ışınları şeklinde geri verirler Bu ikincil X ışınları yayımına floresans ışıma adı verilir. Elementlerin verdiği bu ışımaların dalga boyu her element için farklı ve ayırtmandır. Diğer bir ifadeyle bu ışımalar o elementin parmak izi gibidir. Işımanın dalga boyunun saptanmasıyla elementin cinsi (nitel), saptanan bu ışının yoğunluğunun ölçülmesiyle element konsantrasyonu (nicel) belirlenmektedir.

SPECTRO XEPOS III Teknik Özellikleri:

Bölümümüz XRF laboratuarýnda SPECTRO XEPOS III marka masa üstü XRF spektrometresi mevcuttur. SPECTRO XEPOS III yüksek analitik performans isteyen çoklu-element analizleri için tasarlanmış olup, "Extended Polarization Optical System" özelliği sayesinde Na (Sodyum)-U (Uranyum) element aralığında anında analiz yapılabilmektedir. XRF cihazının detektörü Pd anotlu ve min 50 W güçtedir. Peltier soğutma sistemine sahip olan cihazımız üzerinde, daha hassas element okuması sağlayan HOPG, Al2O3, Mo ve Co target sistemi bulunmaktadır.